電子・半導体関連ニュース

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　富士通研究所は３０日、大学共同利用機関法人自然科学研究機構・国立天文台ハワイ観測所と共同で、宇宙線の一種の中性子線によって引き起こされる先端ＬＳＩの誤動作であるソフトエラーの利用現場における発生率を、短期間で高精度に測定する技術を確立したことを発表した。

　この技術は、緯度・経度や高度、建物の遮蔽など、測定位置により異なるソフトエラー発生率を短期間で正確に評価することを可能にするもので、先端ＬＳＩの開発者に対して、ＬＳＩの利用現場や用途に合わせた最適なソフトエラー対策を行なうための判断材料を提供することができる。

• ［電子・半導体］富士通研究所など、ＬＳＩソフトエラー発生率測定技術を開発 2008/04/30 水曜日